技術文章
Technical articles金相顯微鏡是一種應用較多的光學儀器，可以及早發(fā)現(xiàn)材料加工生產(chǎn)中的問題，改善熱處理操作，防止產(chǎn)生廢棄物，提高產(chǎn)品質量。該設備已成為鋼鐵冶煉、材料加工等行業(yè)重要的測量分析儀器，也廣泛應用在高校的實驗研究教學中。偏振光技術在材料研究中的應用可用來觀察鑒定非金屬夾雜物，當試樣被線偏振光照射時，從平滑外表面反射的光仍為線偏振光，不能通過正交位置的檢偏鏡，因而在目鏡中看到黑暗；但在夾雜物處，光線既在外表面反射，又從夾雜物和金屬之間的界面反射后再經(jīng)夾雜物折射出來，成為具有不同橢圓度的橢圓偏...
便攜式數(shù)碼布氏硬度壓痕測量儀灰鑄鐵通常的硬度檢測如同球鐵、可鍛鑄鐵等均采用常規(guī)布氏硬度檢測方法。在灰鑄鐵硬度檢測中，有相對硬度（RH）的檢測應用。相對硬度檢測與一般硬度檢測有不同概念。為考慮灰鑄鐵綜合性能，將灰鑄鐵的一些力學性能如抗拉強度(σb)、屈服強度(σB)、硬度（HB）等進行組合運算，衍生出一些新的力學綜合性能指標，如相對強度、相對硬度、屈強比等。并利用相對硬度、相對強度指標，判斷灰鑄鐵品質的優(yōu)劣。1、相對硬度RH2、相對強度3、RH、RZ的計算線截圖4、硬度和抗拉強...
鍍層厚度要求在陰極表面上分布的均勻性和完整性，是決定鍍層厚度要求質量的一個重要因素，它在一定程度上影響著鍍層厚度要求的防護性能。在電鍍中常用分散能力和覆蓋能力來分別評定金屬鍍層厚度要求在陰極上分布的均勻性和完整性。鍍層測厚儀采用了設計的發(fā)生器和DMC測量法光學編碼定位系統(tǒng)，高科技的FP法計算，能對樣品數(shù)據(jù)進行快速、精準的分析，基于當前的電子技術設計的電路板，儀器小巧，結構緊湊，靈敏度高，性價比。本儀器采用電磁感應法測量涂層的厚度，位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個閉合的磁回路，隨著探...
洛氏硬度（HR）手動洛氏硬度計用一個金剛石圓錐（HRC）或經(jīng)硬化的（鎢）鋼球壓頭（HRB等），以10kgf的預載荷和60,100,或150kgf的主試驗力壓入被測材料表面。表面洛氏硬度（HR）手動洛氏硬度計依據(jù)設定的標尺，用一個金剛石圓錐或經(jīng)硬化的（鎢）鋼球壓頭壓入被測材料表面。表面洛氏測量應用的力值較小，產(chǎn)生的壓痕較淺，多用于相對易碎和很薄的材料中。預載荷為3kgf，主試驗力為15,30,或45kgf.維氏硬度（HV）以1-120kgf的試驗力，將相對面夾角為136°的方錐...
韋氏硬度計的校正包括滿刻度校正和負荷彈簧校正。滿刻度校正是為儀器提供一個基準點，沈陽天星試驗儀器有限公司生產(chǎn)的韋氏硬度計的基準點設置在滿刻度20的位置。負荷彈簧校正為儀器提供一個參考點，這個參考點就是標準硬度塊的已知硬度值（注：沈陽天星所生產(chǎn)的韋氏硬度計附帶的韋氏硬度塊都是經(jīng)標準洛氏硬度計，嚴格按照計量檢定規(guī)程進行定度）。校正后應再次進行滿刻度檢驗，讀數(shù)應符合滿刻度校正的規(guī)定。一、滿刻度校正硬度計開口中不放置試樣，直接將手柄握到底。如圖1所示，用小螺絲刀調整滿刻度調節(jié)螺釘，使...
隨著我國傳統(tǒng)制造業(yè)的飛速發(fā)展，自動切割機正在逐漸普及，高功率高配置的一般價格都會比較高昂，而且因為其各種配置的差異，價格區(qū)間也非常大，價格從幾萬到幾百萬不等，具體價格需要根據(jù)您選擇的機型和功率而定。我們經(jīng)常會聽到說這個金屬激光器是單模還是雙模什么什么的，作為自動切割機中的核心部件，激光器對切割效果有很大的影響。那么在選擇時，我們也需要考慮金屬激光器的模塊集成方式是怎樣的？金屬激光器的模塊組成分為單模和多模兩種，在切割應用中，聚焦光斑對切割出的質量有很大影響，單模激光器的纖芯比...
維氏硬度試驗方法是英國史密斯(R.L.Smith)和塞德蘭德(C.E.Sandland)于1925年提出的。英國的維克斯—阿姆斯特朗(Vickers-Armstrong)公司試制了第一臺以此方法進行試驗的硬度計。小負荷維氏硬度計的試驗力比較多，因此維氏硬度計的應用也比較廣泛。其它硬度計能測的材料或工件，只要工件表面的粗糙度符合標準。維氏硬度計都可以檢測。維氏硬度計通過步進電機，對工件表面進行打壓，之后再由讀數(shù)顯微鏡測量壓痕的對角線的長度。之后利用對角線及試驗力的一個換算關系來...
X熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質測量方法，是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發(fā)出的次級X射線。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調查和研究，地球化學，法醫(yī)學，考古學和藝術品，例如油畫和壁畫。X熒光光譜儀通常用以下一種或幾種方法來分離熒光：1、90°布置法：激發(fā)光和探測器90°方向布置。由于熒光沒有方向性，它向四周發(fā)射，因此可以把探測器放在與激發(fā)光成90°的位置來接收熒光。大部分的熒光測量裝置都采用此方法（同時常常配上其它方法）。...
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